RLK656T

所属分类：红外特性测量（辐射、发射率）
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发布日期：2026/04/03
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详细介绍

产品简介：

RLK656T台式红外发射率测量仪，采用独特的双积分球设计，基于双积分半球反射比/透射测量原理，通过采集待测材料的反射与透射信号，计算得到待测材料红外发射率，反射率，透射率。对红外透明和红外非透明测量均可适用，不仅适用于非透明材料的红外发射率测量，也适用于透明材料的红外发射率测量。

RLK656T台式红外发射率测量仪，通过控制器上操作按钮，便可方便进行测量操作，同时，控制器还提供RS-485通讯口和串口控制指令，可方便用户进行二次开发，将仪器集成到测试系统中。可广泛应用于红外隐身涂覆材料的研究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。也是国内为数不多的适应与红外透明材料发射率测量的理想仪器。

产品特点：

1. 测量原理：双半球积分球反射/透射法

2. 测量波段：双波段，3-5μm & 8-14μm

3. 应用领域：非透明/透明材料的红外发射率测量

4. 数据记录：最近32条测量记录，EEPROM保存，方便进行测量对比

5. 彩色触摸屏：汉字界面、触摸操作、一目了然，一键测量，操作简便

6. 通讯接口： RS-485数据传输接口，便于PC指令操作或记录数据

产品应用：