RLK656

所属分类：红外特性测量（辐射、发射率）
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发布日期：2026/04/03
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详细介绍

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产品简介：

RLK656 台式红外发射率测量仪，基于定向半球反射（ DHR ）测试原理，实现双波段（ 3-5 μm & 8-14 μm）红外发射率的测量。采用一体化台式集成设计，所有部件全部集成在产品控制器上，使仪器具有工作状态稳定的特点，仪器因此可获得较高的测量重复性。同时，控制器提供 RS-485 通讯口和串口控制指令，可方便用户进行二次开发，将仪器集成到测试系统中。可广泛应用于实验室材料表面红外发射率的测试、材料研究、性能评估等，特别适合作为单位检验部门的专用检验设备。

产品特点：

1. 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射

2. 测量波段：双波段，3-5μm & 8-14μm

3. 台式设计：台式设计，实验室设备，稳定性更高

4. 数据记录：最近32条测量记录，EEPROM保存，方便进行测量对比

5. 通讯接口： RS-485数据传输接口，便于PC指令操作或记录数据

产品应用：