设备介绍
RLK900高分辨率XAFS/XES光谱仪，是目前国际最先进的新型XAFS/XES光谱仪，仪器原理主要是将X光源、样品、SBCA晶体和探测器置于罗兰圆上，进行能量扫描和数据收集完成XES或XAFS测量，并最终形成形成可供分析的X光吸收谱和发射谱线。该仪器可检测原子的环境结构和电子所处的能带结构及环境影响，在实验室即可获得接近同步辐射试验品质的谱线，我们的实验平台和仪器将解决部分课题无法申请到同步辐射光源的难点痛点。
咨询热线：
029-88452508
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