规格：

类型：

产品简介：

RLK655 分体式红外发射率测量仪，基于定向半球反射（DHR）测试原理，实现双波段（ 3-5 μm & 8-14μm）红外发射率的测量。采用探头+控制器分体式结构，探头尺寸小、重量轻，方便手持。探头与控制器之间采用柔性电缆连接，适用更多测试工况。控制器设计操作按钮，操作便捷，同时，提供RS-485通讯口和串口控制指令，可方便用户进行二次开发，将仪器集成到测试系统中。可广泛应用于实验室材料表面红外发射率的测试、材料研究、性能评估等。

产品特点：

1. 测量原理：  定向半球反射（DHR），20°±1°入射

2. 测量波段：  双波段，3-5μm  &  8-14μm

3. 分  体  式：   探测头+控制器分体式设计，适应更多测试工况

4. 数据记录：  最近32条测量记录，EEPROM保存，方便进行测量对比

5. 通讯接口：  RS-485数据传输接口，便于PC指令操作或记录数据

产品应用：

技术指标：

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